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【24h】

エレクトロマイグレーション

机译:电迁移

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摘要

マイグレーション(migration)とは「移住」、「移動」という意味であり、電気的にはイオンまたは金属(特に銀)の移動現象をいい、エレクトロマイグレーションと銀(Ag)マイグレーションがある。エレクトロマイグレーション(electromigration)は、集積回路内部の金属配線に電流を流すことにより金属原子が移動する現象である。100年以上前からエレクトロマイグレーションは知られていた現象であるが、実用的な意味で注目されるようになったのは、集積回路が製品化されたことによる。集積回路の集積度が高まり、集積回路が微細化することに伴い、エレクトロマイグレーションによる故障発生の可能性が増大している。これは電力密度と電流密度が増大するためである。回路のサイズがl/k倍になると、電力密度はk倍、電流密度はk~2倍となり、エレクトロマイグレーションへの影響が大きくなってくる。
机译:“迁移”是指“迁移”和“运动”,这是指离子或金属(特别是银)电迁移的现象,并且存在电迁移和银(Ag)迁移。电迁移是一种现象,其中金属原子通过使电流通过集成电路内部的金属布线而移动。电迁移已成为一种众所周知的现象,已有100多年的历史了,但是由于集成电路的商业化,在实际意义上它已走在前列。随着集成电路的集成度的提高和集成电路的精细化,由于电迁移而导致故障的可能性增加。这是因为功率密度和电流密度增加。当电路尺寸变为1 / k倍时,功率密度变为k倍,电流密度变为k至2倍,并且对电迁移的影响变大。

著录项

  • 来源
    《鉄道と電気技術》 |2016年第11期|77-77|共1页
  • 作者

    藤田 洋;

  • 作者单位

    大同信号㈱ 技術生産本部 浅川事業所 設計部;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 jpn
  • 中图分类
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