机译:根据新标准IEC 62220-1测量数字X射线探测器的探测量子效率(DQE)
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机译:在符合IEC 62220-1标准的数字探测器中测量探测量子效率:有关选择过滤材料的实际考虑。
机译:遵循新颖的IEC 62220-1-1:2015国际标准确定CMOS / CsI成像探测器的探测量子效率(DQE)
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机译:根据标准IEC 62220-1测量数字X射线成像设备的检测量子效率(DQE)
机译:X射线成像探测器的频率相关探测量子效率建模。
机译:检测器还是系统?扩展探测量子效率的概念以表征数字放射成像系统的性能
机译:光子计数x射线探测器的探测量子效率。
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