Die Vielfalt an Leiterplatten macht es heute nicht mehr möglich, alle Testanforderungen mit einem Testgerät zu erfüllen. Der Tatsache, dass Flying Prober na- hezu keine Testlimits haben, steht der Nachteil gegenüber, dass der Testdurchsatz immer noch nicht hoch genug ist, um große Mengen an Leiterplatten ökonomisch zu testen. Universaltester im DD-Raster sind an die Grenzen gestoßen. Zum einen sind nicht genügend Prüfpunkte pro Flächeneinheit verfügbar und zum anderen schränken kleinste Kontaktraster und Verzüge ganz grundsätzlich den Einsatz von Prüfadaptern ein.
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