机译:指数分布下一站式设备简单逐步应力加速寿命测试的优化设计
Educ Univ Hong Kong, Dept Math & Informat Technol, Tai Po, Hong Kong, Peoples R China;
cumulative exposure model; EM algorithm; exponential distribution; one-shot devices; optimal design; step-stress accelerated life-tests;
机译:Weibull分布下单次注射装置的简单步进应力加速寿命试验的优化设计
机译:I级渐进式审查下具有不均匀持续时间的指数寿命的简单步进应力加速寿命测试的优化设计
机译:逐步型I型循环下的简单阶跃应力加速寿命试验的最佳设计,其具有幂级寿命的非均匀持续时间
机译:两参数威布尔分布的I型阶跃应力加速寿命试验的优化设计
机译:考虑可靠性/寿命预测的加速寿命测试的最佳分步应力计划。
机译:采用渐进式混合检查的逐步应力部分加速寿命试验中掩盖式混合系统寿命数据的统计分析
机译:对加权指数分布的简单阶梯应力加速寿命测试的参数和最优设计推断
机译:竞争指数失效分布下的加速寿命试验