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Plating's Effects on Electronics Assembly

机译:电镀对电子组装的影响

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摘要

While electroplated SnPb surface finish exhibits good solderability and is virtually immune to tin whisker growth, a termination plated with pure tin is very likely to spawn tin whiskers, usually in months or years after plating (FIGURE 1). Tin whiskers, being electrically conductive, have been the cause of short-circuit failures.rnRoHS has similarly compelled board fabricators to final finish solder pads with electroless nickel/immersion gold (ENIG), immersion tin, or immersion silver (since all are Pb-free) instead of the SnPb hot air solder level (HASL) finish used successfully for some 60 years.
机译:尽管电镀的SnPb表面光洁度表现出良好的可焊性,并且几乎不受锡晶须生长的影响,但镀有纯锡的端子很可能会产生锡晶须,通常是在电镀后的几个月或几年内产生(图1)。锡晶须具有导电性,是造成短路故障的原因。rnRoHS同样迫使电路板制造商使用化学镀镍/浸金(ENIG),浸锡或浸银(最终都是Pb-免费使用)代替了SnPb热风焊料水平(HASL)涂层已成功使用了60年。

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  • 来源
    《Printed Circuit Design》 |2010年第7期|P.40|共1页
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