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耐久性の新しい評価手法の試み: 神奈川大学大石研究室における研究を中心に 第5回 マイクロチャネルチップ法

机译:尝试一种新的耐久性评估方法:以神奈川大学大石实验室为研究重点的第五种微通道芯片方法

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摘要

本連載の第5回目として,「マイクロチャネルチップ(MCC)法」(ここでは本法という)と名付けた新手法を採りあげる。これは東京大学工学部光学系研究科の北森武彦教授が創出したインテグレーテッドケミストリーと,その基本であるマイクロチャネルチップを活用する方法である。筆者はこの新技術に早期から着目し,神奈川科学技術アカデミー(KAST)の光科学重点研究室マイク口化学グループの北森教授,渡慶次学氏,菊谷善国氏ほかのメンバーと共同研究を行った。KASTにて試作されたマイクロチャネルチップとその計測装置を用いた高分子材料の新しい耐久性評価法の研究を,ここに紹介する。
机译:作为本系列的第五篇文章,我们将探讨一种称为“微通道芯片(MCC)方法”的新方法(以下称为此方法)。该方法利用了东京大学工程学研究生院北森武彦教授创建的集成化学和基本微通道芯片。作者从一开始就将注意力集中在这项新技术上,并与神奈川科学技术学院(KAST)的北森教授,渡边庆次,吉国菊谷以及光口化学实验室的Micguchi化学小组进行了合作研究。在这里,我们将介绍一种新方法的研究,该方法使用在KAST上原型的微通道芯片及其测量设备来评估聚合物材料的耐久性。

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