机译:用于分析GaN基面堆叠缺陷的X射线衍射技术
Air Force Research Lab., 80 Scott Dr., Hanscom AFB, MA 01731, USA;
Air Force Research Lab., 80 Scott Dr., Hanscom AFB, MA 01731, USA;
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GaN; nitride semiconductors; stacking faults; structure; X-ray diffraction;
机译:在(1011)半极性GaN模板上生长的In_(0.25)Ga_(0.75)N多量子阱中I_2型基面堆叠缺陷的形成
机译:含不同缺陷密度的Si掺杂非极性a平面(11(2)over-bar0)GaN外延层在基面堆叠故障中的载流子定位
机译:使用前激励型光电子枪通过时空分辨阴极发光研究GaN的表面下基面堆叠断层周围的局部载流子动力学
机译:半极性GaN基面堆叠断层中的纤锌矿/闪锌矿电子带对准
机译:通过发光光谱和X射线衍射测定在6H-SiC(0001)衬底上生长的GaN和Al(x)Ga(1-x)N薄膜的应变和组成。
机译:相干X射线衍射图中面心立方纳米晶体的位错和堆垛层错的特征:数值研究
机译:近填充晶体的衍射X射线,其含有两个`生长堆叠故障'和“变形或转换堆叠故障”