机译:电子探针显微分析在氮化物异质结构研究中的应用
Ioffe Physico-Technical Institute, Polytekhnicheskaya 26, 194021 St. Petersburg, Russia;
Ioffe Physico-Technical Institute, Polytekhnicheskaya 26, 194021 St. Petersburg, Russia;
Ioffe Physico-Technical Institute, Polytekhnicheskaya 26, 194021 St. Petersburg, Russia;
St. Petersburg Academic University - Nanotechnology Research and Education Centre RAS, Khlopina treet 8/3, 194021 St. Petersburg, Russia;
Ioffe Physico-Technical Institute, Polytekhnicheskaya 26, 194021 St. Petersburg, Russia;
Ioffe Physico-Technical Institute, Polytekhnicheskaya 26, 194021 St. Petersburg, Russia;
electron probe microanalysis; monte-carlo simulation; nanoscale layers; nitrides;
机译:(Na_(1-x)Bi_x)(Mn_yNb_(1-y))O_3陶瓷化学成分的单粒子电子探针X射线显微分析及蒙特卡罗模拟研究
机译:电子探针微分析纳米层异质结构
机译:基于InGaN / GaN的多层异质结构的电子探针显微分析和局部阴极发光研究
机译:电子探针显微分析作为相图研究的一种工具
机译:不同电子探针X射线显微分析方法对单个环境粒子的化学表征的优化和应用。
机译:用于低压扫描电子显微镜的定量电子探针X射线显微分析的障碍
机译:电子探针显微分析:原理和应用
机译:低氧局部压力下高温合金氧化的定量电子探针微量分析研究