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机译:通过光反射光谱法观察到的AlGaN / GaN晶体管异质结构中的带隙跃迁以下
Institute of Physics, Wroclaw University of Technology, Wybrzeze Wyspianskiego 27, 50-370 Wroclaw, Poland;
Ⅲ-Ⅴ semiconductors; optical constants (including refractive index, complex dielectric constant, absorption, reflection and transmission coefficients, emissivity); field effect devices;
机译:Si衬底上的AlGaN / GaN单异质结构和AlGaN / GaN / AlGaN双异质结构场效应晶体管的材料生长和器件表征
机译:具有二维电子气的AlGaN / GaN异质结构的非接触电调制光谱:光反射率和非接触电反射率的比较
机译:通过光反射光谱研究AlGaN / GaN场效应晶体管结构
机译:Pt / GaN肖特基二极管和AlGaN / GaN异质结构电场的电磁力反射和光学反射研究
机译:Algan / GaN高电子迁移率晶体管通过热仿真和子带隙光学泵浦的可靠性研究
机译:角分辨X射线光电子能谱研究Al2O3封端的GaN / AlGaN / GaN异质结构的表面极化
机译:AlGaN / GaN晶体管结构中供体相关跃迁的光反射研究
机译:m面alGaN / GaN和alInN / GaN异质结构的外延生长适用于常驻型GaN基板上的常关模式高功率场效应晶体管