ON-LINE MONITORING OF BASE CURRENT AND FORWARD EMITTER CURRENT GAIN OF THE VOLTAGE REGULATORS SERIAL PNP TRANSISTOR IN A RADIATION ENVIRONMENT

摘要

Основна тема овог рада je pa3Boj методе за непрекидно пpaheibe рада стабилизатора са ниским падом напона у радиjационом окруженьу. Захтевана метода треба да буде практична у експлоатациjи, дajyhи могуhност за детекциjу деградациje интегрисаног кола без прекиданьа ньеговог рада у польу joнизyjyher зраченьа. Такоье, треба да омогуhи аутоматизовано меренье и прикульанье података, као и детекциjy значаjне деградациje знатно пре отказа надзираног стабилизатора напона. Основни параметри за праhенье рада стабилизатора напона били су стpyja базе и коефициjент стpyjHor пojaчaньa редног пнп транзистора. Ови параметри су добиjени посредно, на основу података о струjи потрошача и стpyjи према маси стабилизатора напона. Као стpyja сопствене потрощье умерено и jaKo оптереhених узорака коришhена je стpyja према маси занемарльиво оптереhеног стабилизатора напона истог типа, употребльеног у свojcтвy референтне компоненте. Резултати добиjени непрекидним надзором демонстрирали су значаjну сагласност са резултатима добиjеним испитиваньем максималне излазне cтpyje и минималног излазног напона стабилизатора напона у радиjационом окружельу. Посебно сагласни резултати добиjени су испитиваньем jaкo оптереЬених интегрисаних кола. у случаjу умерено оптереhених стабилизатора напона анализирани су добиjени резултати, као и ризици примене представльeне методе.%A method of on-line monitoring of the low-dropout voltage regulator's operation in a radiation environment is developed in this paper. The method had to enable detection of the circuit's degradation during exploitation, without terminating its operation in an ionizing radiation field. Moreover, it had to enable automatic measurement and data collection, as well as the detection of any considerable degradation, well before the monitored voltage regulator's malfunction. The principal parameters of the voltage regulator's operation that were monitored were the serial pnp transistor's base current and the forward emitter current gain. These parameters were procured indirectly, from the data on the voltage regulator's load and quiescent currents. Since the internal consumption current in moderately and heavily loaded devices was used, the quiescent current of a negligibly loaded voltage regulator of the same type served as a reference. Results acquired by on-line monitoring demonstrated marked agreement with the results acquired from examinations of the voltage regulator's maximum output current and minimum dropout voltage in a radiation environment. The results were particularly consistent in tests with heavily loaded devices. Results obtained for moderately loaded voltage regulators and the risks accompanying the application of the presented method, were also analyzed.