...
机译:电子诱导绝缘子的二次电子发射率和充电效应
Univ Reims, CNRS, DTI, Fac Sci,LASSI,UTAP, F-51687 Reims 2, France;
secondary electron emission; insulators; charging; electron transport; X-ray induced secondary electron emission; scanning electron microscopy; MONTE-CARLO; THIN-FILMS; SURFACE; MODEL; BEAM; ENERGY; SEMICONDUCTORS; SPECTROSCOPY; MICROSCOPY; SOLIDS;
机译:电荷在绝缘子中受到电子束辐照的一维数值模拟。第一部分:初始二次电子发射率的计算
机译:月球土壤的二次电子发射:产量,能量分布和电荷效应
机译:白云母云母的二次电子发射率:充电动力学和电流密度效应
机译:真空中电荷注入和二次电子发射引起的绝缘子表面带电分析
机译:绝缘子二次电子发射性能的测量。
机译:聚合物基底基于等离子体的表面工程中的粗糙度演变和带电:离子反射和二次电子发射的影响
机译:电荷在绝缘子中受到电子束照射的一维数值模拟。第一部分:初始二次电子发射率的计算