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机译:配有条形检测器和约翰逊单色仪的粉末衍射仪在相分析和结构优化中的应用
Polish Acad Sci, Inst Phys, Lab Xray & Electron Microscopy Res, PL-02668 Warsaw, Poland;
linear detector; strip detector; X-ray diffraction; structure refinement; phase analysis; defocusing; diffractometer; Johansson monochromator; POSITION-SENSITIVE DETECTOR; X-RAY-DIFFRACTION; MICROSTRIP DETECTOR; ENERGY; CDZNTE; RESOLUTION; GAAS;
机译:X射线粉末衍射仪对聚焦弯曲晶体单色器的光学器件,应用于晶格参数测定和微观结构分析
机译:配备以非零Fankuchen角运行的聚焦单色仪的中子粉末衍射仪的分辨率
机译:自动进样器,用于在配备区域检测器的X射线单晶衍射仪上分析粉末样品
机译:硅条探测器及其在X射线粉末衍射仪中的应用前景
机译:分层多导体耦合缝隙和带状缝隙结构的分析和应用。
机译:X射线粉末衍射仪上聚焦弯曲晶体单色仪的光学及其在晶格参数确定和微结构分析中的应用
机译:生病中子粉末衍射仪上的新多选量和单色器
机译:Risoe国家实验室的多探测器粉末中子衍射仪。