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【24h】

LSIの性能を微細化に頼らず向上高速化と低電力化に寄与

机译:在不依靠小型化的情况下提高LSI性能有助于提高速度和降低功耗

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摘要

連載の第9回では,トランジスタのドレインと基板の間の寄生容量を減らしてLSIの性能を高めるSOI(silicon on insulator)基板技術を取り上げる。SOI基板技術は,微細化に頼らずにLSIの性能を向上させる「テクノロジ・ブースタ」の一種であり,すでに高速プロセサや低電力LSIなどで実用化されている。LSIのさらなる性能向上に向けて,ここに来て基板表面のSi層(SOI層)を50~10nm厚まで薄くしたり,ひずみSiやGeチャネルとSOlを組み合わせる技術の開発が活発化している。
机译:在本系列的第九篇文章中,我们将重点介绍SOI(绝缘体上硅)衬底技术,该技术通过减少晶体管漏极和衬底之间的寄生电容来增强LSI性能。 SOI基板技术是一种不依靠小型化就提高LSI性能的“技术助推器”,并且已经在高速处理器和低功率LSI中投入实际使用。为了进一步提高LSI的性能,已经积极进行了将基板表面上的Si层(SOI层)减薄至50至10nm并且将应变的Si和Ge沟道与SOl结合的技术的开发。

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