Elektronenmikroskopie im Nanometerbereich

摘要

In diesem Beitrag wurde aufgezeigt, in welch vielfältiger Weise die hochauflösende und analytische Durchstrahlungselektronen-mikrokopie im Nanometerbereich zur Lösung von Problemen der Festkörperphysik, Werkstoffkunde und Materialentwicklung eingesetzt werden kann. Ausgehend von den Prinzipien der Abbildung mit Elektronen und den Grundzügen der Probenpräparation wurden Anwendungsbeispiele der TEM aus verschiedenen Forschungsschwerpunkten des FZK vorgetellt. Prinzipiell gibt es keinerlei methodische Einschränkung bezüglich der zu untersuchenden Materialien, wie die vielfältigen Beispiele aus den Bereichen Nanomaterialien, Keramiken, Hochtemperatursupraleiter, Fullerene und Metalle zeigen. Gerade für neuere Materialien, die am Anfang in nur sehr geringen Mengen zur Verfügung stehen, oder für das Gebiet der Nanomaterialien, deren Dimensionen keinen anderen Zugang erlauben, stellt die TEM häufig die einzige Methode zur Strukturaufklärung und Festkörperanalytik dar.