首页> 外文期刊>NASA Tech Briefs >Reliability of CCGA 1152 and CCGA 1272 Interconnect Packages for Extreme Thermal Environments
【24h】

Reliability of CCGA 1152 and CCGA 1272 Interconnect Packages for Extreme Thermal Environments

机译:CCGA 1152和CCGA 1272互连封装在极端热环境中的可靠性

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
           

摘要

Ceramic column grid array (CCGA) packages have been increasing in use based on their advantages of high interconnect density, very good thermal and electrical performance, and compatibility with standard surface-mount packaging assembly processes. CCGA packages are used in space applications such as in logics and microprocessor functions, telecommunications, flight avionics, and payload electronics. As these packages tend to have less solder joint strain relief than leaded packages, the reliability of CCGA packages is very important for short- and long-term space missions.
机译:陶瓷柱栅阵列(CCGA)封装因其具有高互连密度,非常好的热和电性能以及与标准表面贴装封装组装工艺的兼容性而得到越来越多的使用。 CCGA软件包用于空间应用,例如逻辑和微处理器功能,电信,航空电子设备和有效载荷电子设备。由于这些封装的焊接点应变减轻能力比含铅封装小,因此CCGA封装的可靠性对于短期和长期太空飞行非常重要。

著录项

  • 来源
    《NASA Tech Briefs》 |2013年第5期|56-57|共2页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号