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机译:表征S参数测量的不确定性
Maury Microwave Ontario CA 91764 USA;
Fed Inst Metrol METAS Bern Switzerland;
机译:使用GSOLT校准方法的多端口VNA S参数测量的不确定性
机译:TAN自校正法测量VNA S参数的不确定性
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