机译:并五苯金属氧化物半导体结构的准静态电容电压特性
Department of Electronics, Helmut Schmidt University/University of the Federal Armed Forces, Holstenhofweg 85, D-22043 Hamburg, Germany;
Department of Electronics, Helmut Schmidt University/University of the Federal Armed Forces, Holstenhofweg 85, D-22043 Hamburg, Germany;
Organic thin-film transistors; Metal-oxide-semiconductor capacitor; Quasi-static capacitance-voltage; characteristics; Hysteresis; Threshold voltage shift; Modeling; Pspice;
机译:基于电容-电压特性的并五苯金属氧化物半导体二极管在空气中的稳定性研究
机译:新型结构中金属氧化物半导体场效应晶体管电容电压特性的精确模拟研究
机译:金属氧化物半导体结构的电容电压C(V_G),特性和平带电压的拐点
机译:嵌入纳米晶体的超薄金属氧化物半导体结构的电容电压特性仿真
机译:从电容电压测量中数值提取金属氧化物半导体掺杂分布
机译:溶液处理半导体碳纳米管网络制造的薄膜晶体管的电容-电压特性
机译:GaAs,In0.53Ga0.47As和InAs金属氧化物半导体结构的电容电压特性的计算
机译:mNOs器件的准静态电容 - 电压特性。