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Noise Level Estimation in Phase Images Obtained Using a Shearing Interference Microscope

机译:使用剪切干涉显微镜获得的相位图像中的噪声水平估计

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摘要

A method is described for estimating spatial and temporal noise levels in phase patterns obtained using a shearing interference microscope. Experimental results are presented for a microscope operating with a coherent laser and low-coherence LED light.
机译:描述了一种用于估计使用剪切干涉显微镜获得的相位模式中的空间和时间噪声水平的方法。给出了使用相干激光和低相干LED灯操作的显微镜的实验结果。

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