首页> 中国专利> 使用从正电子发射断层摄影中的窄能量窗口计数重建的发射图像估计进行散射校正

使用从正电子发射断层摄影中的窄能量窗口计数重建的发射图像估计进行散射校正

摘要

一种非瞬态存储介质存储能够由包括至少一个电子处理器(20)的成像工作站(18)读取和执行以执行图像重建方法(100)的指令。所述方法包括:从图像采集设备(12)接收发射成像数据(22),其中,所述发射成像数据已经使用采集能量通带(18)进行了滤波;通过利用比采集能量通带窄的第二能量通带(90)对所述发射成像数据进行滤波来生成经滤波的成像数据;重建所述经滤波的成像数据以生成中间图像;根据所述中间图像来估计一个或多个散射校正因子(SCF);以及重建利用所估计的SCF校正的所述发射成像数据以生成重建图像。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-26

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号