机译:用于MEMS的电镀Ni薄膜的杨氏模量
Department of 'Engineering, University of Cambridge, Trumpington Street, Cambridge CB2 1PZ, UK b Department of Aeronautics and Astronautics, MIT, Cambridge, MA 02139, USA;
Young's modulus; Electroplated Ni thin film; MEMS;
机译:平衡法测定电镀镍铁(Ni / Fe)和微加工硅薄膜的杨氏模量
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机译:MEMS应用中多层薄膜杨氏模量的一种简单提取方法
机译:与Si MEME兼容的处理器制造的Si薄膜的杨氏模量评估
机译:在超导射频(RF)微机电(MEM)开关中用作致动膜的金薄膜的弹性模量研究
机译:MEMS应用中多层膜杨氏模量的一种简单提取方法
机译:MEMS应用中的多层薄膜杨氏模量简单的提取方法