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机译:不同Ti层间厚度的Ti和Imidex(PI)膜失效表面的表征
Department of Material Science and Chemical Engineering, Wayne State University, Detroit, MI, USA;
Metallurgical Technology Program, College of Agriculture &amp Technology, Arkansas State University, Jonesboro, AR, USA;
Department of Mechanical Engineering, Wayne State University, Detroit, MI, USA;
bond strength; inter-layer thicknesses; mechanical interlocking; roughness; SEM; XPS;
机译:不同Ti层间厚度的Ti和Imidex(PI)膜失效表面的表征
机译:坡莫合金层和Ti隔层厚度对Fe19Ni81 / Ti / Tb-Co膜的磁阻和磁阻性能的影响
机译:Bi_4Ti_3O_(12),(Bi_(3.25)La_(0.75))Ti_3O(12)和Bi_4Ti_3O_(12),(Bi_(3.25)La_(0.75))Ti_3O(12)多层膜的合成与表征溶胶凝胶法
机译:多合金层和Ti间隔厚度对Fe19Ni81 / Ti / Tb-Co膜磁性磁阻性能的影响
机译:探测拓扑绝缘体薄膜和拓扑绝缘体/铁磁体(TI / FM)异质结构表面状态的磁传输方法。
机译:Ti上的高表面积IRO2薄膜的电沉积是氧气进化反应的有效催化剂
机译:坡莫合金层和Ti间隔物厚度对Fe19Ni81 / Ti / Tb-Co薄膜磁性和磁阻特性的影响