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Influence of Pyrex Insulator Thickness and it's Length on Hard X-Ray Intensity in APF Plasma Focus Device

机译:派热克斯绝缘子的厚度和长度对APF等离子聚焦装置中硬X射线强度的影响

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摘要

In order to improve the HXR emission from APF plasma focus device we have investigated the effect of insulator sleeve outer diameter (O.D.) and its length. Fourteen different insulator sleeve geometries at three different filling gas pressures of 6, 7 and 8 Torr of neon are used in the present investigation. The average HXR yield, measured using scintillation detector, has been found to increase with the increase in insulator sleeve O.D. from 31 to 34 mm. Further increase in insulator sleeve diameter to 37 mm, however, decreased the HXR yield. The highest magnitude of 234.5 kA was achieved for 34 mm O.D. of sleeve at filling gas pressure of 7 Torr and voltage of 12 kV.
机译:为了改善APF等离子聚焦装置发出的HXR辐射,我们研究了绝缘子套筒外径(O.D.)及其长度的影响。在本研究中,在氖气的6、7和8托的三种不同填充压力下使用了14种不同的绝缘套几何形状。已发现使用闪烁检测器测量的平均HXR产量会随着绝缘套O.D的增加而增加。从31到34毫米。绝缘套直径进一步增加至37 mm,却降低了HXR产量。对于34 mm O.D,达到了234.5 kA的最高强度。填充气体压力为7 Torr且电压为12 kV时的套管尺寸。

著录项

  • 来源
    《Journal of Fusion Energy》 |2012年第2期|p.130-133|共4页
  • 作者

    Morteza Habibi;

  • 作者单位

    Amirkabir University of Technology (Tehran Polytechnic),Tehran, Iran;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

    plasma focus; HXR yield; pyrex insulator sleeve; outer diameter;

    机译:等离子聚焦HXR产率;派热克斯绝缘套外径;
  • 入库时间 2022-08-18 00:41:14

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