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Researchers Submit Patent Application, 'Method and Apparatus for Examining Inner Ear', for Approval

机译:研究人员提交专利申请“内耳检查方法和装置”以供批准

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摘要

2013 MAR 27 (VerticalNews) -- By a News Reporter-Staff News Editor at Journal of Engineering -- From Washington, D.C., VerticalNews journalists report that a patent application by the inventors Oghalai, John S. (Stanford, CA); Applegate, Brian Edward (Bryan, TX); Gao, Simon Shang (Palo Alto, CA); Raphael, Patrick David (Palo Alto, CA), filed on August 30, 2012, was cleared for further review on March 14, 2013.
机译:2013年3月27日(《垂直新闻》)-由《工程学杂志》的新闻记者-工作人员新闻编辑撰写-VerticalNews记者从华盛顿特区报道,发明人Oghalai,John S.(加利福尼亚州斯坦福)的专利申请; Applegate,布莱恩·爱德华(德克萨斯州布莱恩); Gao,Simon Shang(加利福尼亚帕洛阿尔托); 2012年8月30日提交的Raphael,Patrick David(加利福尼亚州帕洛阿尔托)已于2013年3月14日获准进一步审核。

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