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Uniformity of Electrical Current Flow in Cylindrical Semiconductor Specimens with Cylindrical Metallic End Caps

机译:带圆柱形金属端盖的圆柱形半导体样品中电流流动的均匀性

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摘要

The distribution of current is computed in a cylindrical semiconductor specimen provided with cylindrical metallic end caps of the same diameter as that of the specimen and electrical lead wires of much smaller diameter. Nonuniformity of the longitudinal current density of 1% or less can be obtained in specimens with electrical resistivities at least 200 times greater than that of the end caps if the lengths of the specimens are at least equal to their diameters and if the length of each end cap is at least 0.3 diam.
机译:在圆柱形半导体样品中计算电流分布,该样品具有与样品直径相同的圆柱形金属端盖和直径小得多的电线。如果电阻率的长度至少等于其直径,并且两端的长度至少等于端盖的电阻率的200倍,则纵向电流密度的不均匀性可达到1%或更小上限至少为0.3毫米。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1961年第1期|共2页
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  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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