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Role of the Competing Etching Process in Determining the Quality of Pyrolytically Grown Silicon and Germanium Films

机译:竞争蚀刻工艺在确定热解生长的硅和锗薄膜质量中的作用

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics 》 |1964年第4期| 共2页
  • 作者

    Bylander E. G.;

  • 作者单位

    U. S. Naval Ordnance Laboratory, White Oak, Silver Spring, Maryland;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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