机译:Al-SiO-Al电容器的击穿传导
Auburn University, Auburn, Alabama;
机译:金属-SiO_2-Hi电容器中薄栅极氧化物的预击穿和硬击穿过程中的瞬态
机译:$ hbox {Al} _ {2} hbox {O} _ {3} $掺杂的$ hbox {ZrO} _ {2} $高介电常数介电体的导电机理及击穿特性–金属电容器
机译:氧化铝-聚合物电容器中的可逆击穿后传导
机译:电应力产生的陷阱的场依赖性对SiO 2 sub>薄膜的传导和击穿的影响
机译:芯片级互连中电介质中导电行为的研究:Al / SiO2互连中缺陷的检测
机译:酸性水电化学环境中Si / SiO2阴极的介电击穿和击穿后溶解
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