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Temperature Dependence of Hole Velocity in p‐GaAs

机译:p-GaAs中空穴速度的温度依赖性

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摘要

The temperature dependence of the saturation drift velocity of holes in p‐GaAs has been experimentally determined. The material used was grown epitaxially and had a low field mobility μ≈400 cm2/V sec and carrier concentration p0≈1×1016/cm3, both at T=300°K. The saturation velocity was 1.0×107 cm/sec at T=300°K, and decreased to 7×106 cm/sec at T=469°K. The temperature dependence of the low‐field mobility was also measured and was found to be in good agreement with the recent theory of Wiley and DiDomenico.
机译:通过实验确定了p-GaAs中空穴的饱和漂移速度的温度依赖性。所使用的材料是外延生长的,并且在T = 300°K时具有低的场迁移率μ≈400cm2 / V sec和载流子浓度p0≈1×1016 / cm3。在T = 300°K时,饱和速度为1.0×107 cm / sec,在T = 469°K时,饱和速度降至7×106 cm / sec。还测量了低场迁移率的温度依赖性,并发现其与最新的Wiley和DiDomenico理论非常吻合。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1971年第7期|共4页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
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