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【24h】

Geometry dependence of thin‐film transverse thermoelectric voltages

机译:薄膜横向热电电压的几何依赖性

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摘要

We have measured the transverse voltage from slant‐angle‐deposited metal films due to laser illumination as a function of film geometry. For a fixed laser spot size, the voltage is found to vary inversely with film width d for d small compared to contact separation a. For d/a ⩾∼1 the voltage approaches a constant. The experimental results are in good agreement with the open‐circuit voltage from a finite‐current dipole and consistent with the thermoelectric model previously proposed. Useful design parameters for transverse thermoelectric optical detectors are implied by the data.
机译:我们已经测量了由于激光照射而产生的倾斜角沉积金属膜的横向​​电压与膜几何形状的关系。对于固定的激光光斑尺寸,发现电压与膜宽度d相反变化,与接触间隔a相比,d较小。对于d / a⩾〜1,电压接近一个常数。实验结果与有限电流偶极子的开路电压非常吻合,并且与先前提出的热电模型一致。数据暗示了横向热电光学检测器的有用设计参数。

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics 》 |1976年第8期| P.3436-3437| 共2页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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