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Size effects on the normal‐state resistance of long microbridges

机译:尺寸对长微桥正常状态电阻的影响

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摘要

We have calculated, within the Fuchs‐Sondheimer approach, the effect on the normal‐state resistivity introduced by the width in a long microbridge made in a thin film. It is shown that for bridges having widths smaller than about ten times the film thickness, their resistance increases. This result is in agreement with existing experimental results. We also discuss the role played by the effective bulk mean free path in relation to the film and bridge superconducting properties.
机译:在Fuchs-Sondheimer方法中,我们已经计算出了由薄膜制成的长微桥的宽度对宽度引入的正态电阻率的影响。结果表明,对于宽度小于薄膜厚度约十倍的桥,其电阻会增加。该结果与现有实验结果一致。我们还将讨论有效的体积平均自由程与薄膜和桥超导性能有关的作用。

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1979年第11期|P.6974-6977|共4页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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