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An evaluation of potentially low‐cost silicon substrates for metal‐insulator‐semiconductor solar cells

机译:对金属绝缘子半导体太阳能电池潜在低成本硅基板的评估

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摘要

Cr metal‐insulator‐semiconductor solar cells were fabricated on special silicon substrates identified as 5‐in.‐diam Czochralski wafers, Wacker polycrystalline‐Si, silicon on ceramic, and IBM ribbon. These cells produced open circuit voltages ranging from 0.58 to 0.48 V, short circuit current density from 32 to 18 mA/cm2, and efficiency from 11.5 to 5.1% depending on surface perfection and diffusion length. Spectral response data gave diffusion length values in a range from 150 to 39 mm. Calculations showed interface state density values ranging from 4.2×1012 to 1.2×1013/cm2 eV, which are quite high due to the surface nature of these substrates.
机译:Cr金属-绝缘体-半导体太阳能电池是在特殊的硅基板上制造的,这些基板被识别为5英寸直径的Czochralski晶片,Wacker多晶硅,陶瓷上的硅和IBM带。这些电池的开路电压范围为0.58至0.48 V,短路电流密度为32至18 mA / cm2,效率为11.5至5.1%,具体取决于表面的完善程度和扩散长度。光谱响应数据给出的扩散长度值为150至39 mm。计算表明界面态密度值范围为4.2×1012至1.2×1013 / cm2 eV,由于这些基板的表面性质,该值非常高。

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |1981年第3期|P.1597-1599|共3页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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