...
首页> 外文期刊>Journal of Applied Physics >Pulsed admittance spectroscopy
【24h】

Pulsed admittance spectroscopy

机译:脉冲导纳光谱

获取原文

摘要

A new method of assessing the capture cross section of deep centers is described. The pulsed admittance spectroscopy technique is essentially an admittance spectroscopy experiment fed with electrical pulses. The main features are simplicity and extended range of available time constants (10-8–10-3 s). Experimental results are presented concerning gold and copper impurities in CdTe.
机译:描述了一种评估深中心捕获截面的新方法。脉冲导纳光谱技术本质上是用电脉冲馈入的导纳光谱实验。主要功能是简单性和可用时间常数(10-8–10-3 s)的扩展范围。给出了关于CdTe中金和铜杂质的实验结果。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics 》 |1984年第2期| P.352-356| 共5页
  • 作者

  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类
  • 关键词

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号