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【24h】

Dislocation dynamics during the growth of silicon ribbon

机译:硅带生长过程中的位错动力学

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摘要

The thermal viscoplastic stresses and the dislocation densities in silicon ribbon are computed for an axially changing thermal profile by using an iterative finite difference method. A material constitutive equation (Haasen–Sumino model) which involves an internal variable (mobile dislocation density) is used. The results are interpreted as showing that there is a maximum width of silicon ribbon that can be grown when viscoplasticity and dislocations are considered. This maximum width limitation does not exist if the material behavior is elastic.
机译:使用迭代有限差分法,针对轴向变化的热轮廓,计算了硅带中的热粘塑性应力和位错密度。使用涉及内部变量(移动位错密度)的材料本构方程(Haasen–Sumino模型)。结果被解释为表明,当考虑粘塑性和位错时,可以生长出最大宽度的硅带。如果材料行为是弹性的,则不存在此最大宽度限制。

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  • 来源
    《Journal of Applied Physics 》 |1986年第5期| P.1784-1792| 共9页
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  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
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