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机译:X射线光电子能谱测量过程中介电/半导体异质结构中的充电现象
Laboratorio MDM, IMM-CNR Via C. Olivetti 2, 20041 Agrate Brianza (MB), Italy;
Laboratorio MDM, IMM-CNR Via C. Olivetti 2, 20041 Agrate Brianza (MB), Italy;
机译:氧化铝的单色X射线光电子能谱测量中的充电现象和电子驱油效应
机译:X射线光电子能谱法测量脉冲激光沉积生长的Sc_2O_3(111)/ GaN(0001)异质结构
机译:X射线和紫外光电子光谱法测定脉冲激光沉积钙钛矿钛酸酯/Ⅲ-V半导体异质结构的能带排列
机译:超薄SiO_2 / Si界面X射线光电子能谱测量中充电效果的评价。
机译:X射线光电子能谱技术在铌化学机械工艺开发中的应用,用于场释放质谱仪的硅的光改性以及对多功能氧化物异质结构的分析。
机译:角分辨X射线光电子能谱研究Al2O3封端的GaN / AlGaN / GaN异质结构的表面极化
机译:snOx / Cupc半导体异质结构中的电荷转移量化:光电子能谱研究掩埋界面能量结构