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Switching rate of magnetoresistive random access memory element: Verifying transition state theory

机译:磁阻随机存取存储元件的开关速率:验证过渡态理论

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摘要

In this paper we show that the "transition state theory" (TST) used in chemical rate theory works surprisingly well for magnetic systems. It does not work for the simplest case (uniaxial anisotropy), which may explain why it has not previously been applied to other cases such as thin film switching. To check the TST, we develop a method for defining and computing switching rates by Landau-Lifshitz simulation, and apply it to a specific system (thin-film magnetoresistive random access memory element) for which it gives results similar to the TST.
机译:在本文中,我们证明了化学速率理论中使用的“过渡态理论”(TST)在磁性系统中的表现出奇的良好。它不适用于最简单的情况(单轴各向异性),这可以解释为什么以前未将其应用于其他情况(例如薄膜切换)。为了检查TST,我们开发了一种通过Landau-Lifshitz模拟来定义和计算开关速率的方法,并将其应用于特定系统(薄膜磁阻随机存取存储元件),其结果类似于TST。

著录项

  • 来源
    《Journal of Applied Physics》 |2006年第8pt2期|p.08G106.1-08G106.3|共3页
  • 作者

    Shuxia Wang; P. B. Visscher;

  • 作者单位

    MINT Center and Department of Physics and Astronomy, University of Alabama, Tuscaloosa, Alabama 35487-0324;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类 应用物理学;计量学;
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-18 03:12:48

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