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机译:Al / Fe和Fe / Al双层系统的界面混合以及使用Rutherford背散射光谱法和X射线反射仪测定Ti作为稳定中间层的作用
机译:Fe-al界面混合以及Ti,V和Zr在界面处作为稳定中间层的作用
机译:卢瑟福背散射光谱和X射线反射仪研究基于HfNx的薄膜
机译:Cu(Ti)/ Low-k样品中自形成的Ti-Rich界面层生长的Rutherford背散射光谱分析
机译:使用卢瑟福反向散射光谱法分析Cu(Ti)/介电层样品中自形成的富Ti界面层的生长
机译:合成铝和天然铝-氢氧夹层的X射线,红外,DTA(微分热分析),DTGA(微分热重分析)和CEC(阳离子交换容量)观测值的相关性。
机译:界面形态对Pt / Fe3O4双层自旋混合电导的影响
机译:Cu(Ti)/ Low-k样品中自形成的Ti-Rich界面层生长的Rutherford背散射光谱分析