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机译:一种从厚基板上薄膜的透射光谱中提取薄膜吸收系数的方法
Logic Technology Development, Intel Corporation, Hillsboro, Oregon 97124, USA;
MeV Technologies, Westport, Connecticut 06880, USA;
机译:一种从厚基板上薄膜的透射光谱中提取薄膜吸收系数的方法
机译:同时测量碳掺杂Al0.33Ga0.67AS掺杂Al0.33Ga0.67as薄膜和薄膜掺杂GaAs衬底之间的薄膜和热辐射电阻的薄膜和热界电阻
机译:纳米硫化铋(III)薄膜中吸收系数的光谱依赖性和稳态光电导光谱响应的形状分析
机译:用约50um厚的平面Ge波导传感器测量的薄膜和涂层的中红外消逝波吸收光谱
机译:在各种基板上生长的氧化镧锰和镧锶锶锰薄膜的透射电子显微镜研究。
机译:用于制造光学微结构的钛族金属薄膜的折射率和消光系数的光谱数据
机译:用调制激励的恒定光电流方法研究氢化硅薄膜吸收系数的光谱依赖性
机译:获得薄聚合物薄膜透射红外和可见光谱的新方法