机译:金属氧化物半导体场效应晶体管结漏电流中的随机电报噪声机理
Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd., 1-280 Higashi-Koigakubo, Kokubunji-shi, Tokyo, 185-8601, Japan;
Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd., 1-280 Higashi-Koigakubo, Kokubunji-shi, Tokyo, 185-8601, Japan;
Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd., 1-280 Higashi-Koigakubo, Kokubunji-shi, Tokyo, 185-8601, Japan;
Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd., 1-280 Higashi-Koigakubo, Kokubunji-shi, Tokyo, 185-8601, Japan;
机译:金属氧化物半导体场效应晶体管结漏电流中的随机电报噪声机理
机译:金属氧化物半导体场效应晶体管结漏电流中随机电报噪声中界面态参与的实验证据
机译:高k栅极电介质金属氧化物半导体场效应晶体管的栅极感应漏极泄漏电流中的随机电报噪声模型
机译:随机电报信号噪声在隧道场效应晶体管中的晶体管低于60 mV /十年
机译:金属氧化物半导体场效应晶体管中的噪声。
机译:基于GaMnAs的垂直自旋金属氧化物半导体场效应晶体管中的侧栅电场引起的大电流调制和隧穿磁阻变化
机译:结合传输特性和随机电报噪声测量,提取纳米线场效应晶体管中的场效应迁移率