机译:碳对电力切换的缓冲器的影响和射频GaN-on-SiC HEMTS
Univ Bristol Ctr Device Thermog & Reliabil HH Wills Phys Lab Bristol BS8 1TL Avon England;
Univ Bristol Ctr Device Thermog & Reliabil HH Wills Phys Lab Bristol BS8 1TL Avon England;
GaN HEMT; Buffer; Current collapse; Dynamic R-ON;
机译:具有高掺杂碳缓冲液的短通道AlGaN / GaN-On-Si-Si-Si Hemt的直流和RF特性的电解降低
机译:用于电源开关应用的GaN-on-Si MIS-HEMT中的综合动态导通电阻评估
机译:功率开关应用中的GaN-on-Si MIS-HEMT的评估和可靠性评估
机译:缓冲电荷对碳掺杂AlGaN / Si-on HEMTs可靠性的影响
机译:用于非恒定包络信号的GaN-on-Si RF开关模式功率放大器。
机译:凹入式栅极结构对具有薄AlOxNy MIS栅极的AlGaN / GaN-on-SiC MIS-HEMT的影响
机译:缓冲电荷对掺碳AlGaN / Si-on HEMTs可靠性的影响