机译:X射线可逆空间映射法分析凝聚Si_(1-x)Ge_xfin外延层中的各向异性面内应变行为
Yonsei Univ, Dept Mat Sci & Engn, 50 Yonsei Ro, Seoul 03722, South Korea|Korea Adv Nano Fab Ctr, 109 Gwanggyo Ro, Suwon 16229, South Korea;
Yonsei Univ, Dept Mat Sci & Engn, 50 Yonsei Ro, Seoul 03722, South Korea;
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Korea Adv Nano Fab Ctr, 109 Gwanggyo Ro, Suwon 16229, South Korea;
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机译:X射线互易空间映射法研究硅锗异质外延层的应变
机译:勘误:“ InGaAs / GaAs(001)外延生长过程中位错介导的应变弛豫的X射线倒易位图” [J.应用物理110,113502(2011)]
机译:lnGaAs / GaAs(001)外延生长过程中位错介导的应变弛豫的X射线倒易位图
机译:通过光谱椭圆形测定法选择性地生长外延Si_(1-X)Ge_x和Si / Si_(1-x)Ge_x层的在线和非破坏性分析。与其他建立技术的比较
机译:偏振拉曼光谱在分析软凝结物的相变和各向异性行为中的应用。
机译:通过X射线互易空间映射研究了非极性(112-0)平面InxGa1-xN / GaN层中的各向异性双轴应变
机译:通过X射线互易空间映射研究的X Ga1-x N / GaN层中的非极性(112-0)平面中的各向异性双轴应变
机译:使用位置敏感的X射线检测的外延材料的相互空间映射