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机译:使用超出40 nm NAND闪存的虚拟单元消除边缘存储单元异常干扰的可扩展字线屏蔽方案
Semiconductor R & D Center, Memory Business, Samsung Electronics Co., Ltd., San #24, Nongseo-Dong, Kiheung-Gu, Yongin-City, Kyunggi-Do 449-711, Korea;
NAND flash; wordline shielding; dummy cell; abnormal disturbance; edge memory cell;
机译:通过在低功耗的多级单元NAND闪存中使用双公共源极线和虚拟开关架构来改善读取干扰特性
机译:通过针对高可靠性和低功耗企业固态硬盘(SSD)的铁电(Fe)-NAND闪存存储器的存储单元V-TH优化,改善了读取干扰,程序干扰和数据保留
机译:错误:'横向电荷迁移在3D充电捕获NAND闪存中引起异常读取干扰NAND闪存'[应用。物理。快递13,054002(2020)]
机译:低于40nm以下MLC NAND闪存的具有临时LSB存储程序方案的零单元间干扰页面架构
机译:使用大规模NAND闪存的固态数据存储电路和系统。
机译:用于减少Z干扰的垂直NAND闪存的新型程序方案
机译:一种新颖的门控反向读取方案,可控制深层拆分门SONOS闪存EEPROM单元中多位/单元操作的位耦合和读干扰
机译:高度缩放,高密度,商用,非易失性NaND闪存的辐射测试 - 更新2012。