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机译:先进金属氧化物半导体场效应晶体管中等离子体损伤引起的阈值电压变化的综合建模
Graduate School of Engineering, Kyoto University, Yoshida-Honmachi, Sakyo-ku, Kyoto 606-8501, Japan;
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机译:高k金属氧化物半导体场效应晶体管中等离子体充电损伤引起的阈值电压变化的解析模型
机译:具有超薄埋入氧化物的本征沟道绝缘体上硅金属氧化物半导体场效应晶体管的阈值电压阈值电压依赖性
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机译:等离子体诱导的“硅凹槽结构”及其对高级MOSFET阈值电压可变性的影响的研究
机译:金属氧化物半导体场效应晶体管中随机掺杂引起的阈值电压波动分析
机译:调整电解质门控有机场效应晶体管中的阈值电压
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机译:Inp n沟道增强模式金属 - 绝缘体 - 半导体场效应晶体管的阈值电压漂移。