...
机译:高温退火对4H-SiC刻蚀形状的各向异性转变及其离子注入的增强
Advanced Technology Laboratory, Fuji Electric Holdings Co., Ltd., Hino, Tokyo 191-8502, Japan;
rnAdvanced Technology Laboratory, Fuji Electric Holdings Co., Ltd., Hino, Tokyo 191-8502, Japan;
rnAdvanced Technology Laboratory, Fuji Electric Holdings Co., Ltd., Hino, Tokyo 191-8502, Japan;
rnAdvanced Technology Laboratory, Fuji Electric Holdings Co., Ltd., Hino, Tokyo 191-8502, Japan;
rnAdvanced Technology Laboratory, Fuji Electric Holdings Co., Ltd., Hino, Tokyo 191-8502, Japan;
rnAdvanced Technology Laboratory, Fuji Electric Holdings Co., Ltd., Hino, Tokyo 191-8502, Japan;
机译:表面结构对4H-SiC高温退火相变的影响
机译:氢退火4H-SiC微沟槽的形状转变
机译:勘误:4H-SiC中注入诱导的Z_(1/2)中心的氧化增强退火:反应动力学和建模[物理化学] B 86,075205(2012)版]
机译:高温退火后4H-SIC尾部区域附近植入铝和硼的电气行为
机译:通过电退火和电化学蚀刻对带图案的纳米多孔金薄膜电极的改性。
机译:在不同的注入后退火后p型铝注入的4H-SiC层上的欧姆接触
机译:6H-和4H-SiC,非均匀温度效应中高温铝术后退火的比较研究
机译:离子注入4H-siC的固态微波退火;杂志文章