机译:正电子ni没寿命光谱技术用于潜在非破坏性材料检查的新型系统
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan;
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST), Tsukuba, Ibaraki 305-8565, Japan;
TOYO SEIKO Co., Ltd., Yatomi, Aich 490-1412, Japan;
TOYO SEIKO Co., Ltd., Yatomi, Aich 490-1412, Japan;
机译:光子诱导的正电子an没光谱法:一种用于分析大型工程材料中缺陷的非破坏性方法
机译:正电子an没寿命光谱法(PALS)在研究两亲自组装材料:植物三醇小体和六体的纳米结构中的应用
机译:正电子an没寿命光谱法(PALS)在研究两亲自组装材料:植物三醇小体和六体的纳米结构中的应用
机译:使用正电子湮没光谱对射击喷丸件的潜在非破坏性材料检验的新系统
机译:利用正电子an没诱导的螺旋电子能谱研究正电子在铁表面的量子点状铜颗粒上的俘获。
机译:通过正电子湮没寿命光谱和椭圆仪孔隙测定研究的开放孔隙率和孔径分布的介孔二氧化硅膜
机译:用正电子lifetime没寿命光谱研究由沸石前体形成的介孔材料
机译:正电子湮没寿命谱的电子 - 正电子源的研制