机译:使用高分辨率HPGe检测器光谱仪测定银的K壳参数
Department of Physics,Karnatak University,Dharwad 580 003, India;
Department of Physics,Karnatak University,Dharwad 580 003, India;
Department of Physics,Karnatak University,Dharwad 580 003, India;
Nuclear Physics Division,BARC, Trombay,Mumbai 400 085, India;
Nuclear Physics Division,BARC, Trombay,Mumbai 400 085, India;
HPGE detector; k shell parameter; absorption edge; jump ratio; jump factor; EDXRF; mass attenuation coefficient;
机译:从校准光谱确定光谱仪-检测器参数,以及在光谱仪校准中使用参数
机译:使用高分辨率HPGe检测器测量银原子的实部和虚部形状因子
机译:耦合电感耦合等离子体质谱仪和紫外可见检测器的不对称流场流动分馏法测定水性基质中银纳米颗粒的大小和质量
机译:实验和MC测定40-2754 Kev能量范围内的HPGE探测器效率测量点源几何形状,源点探测器距离为25厘米
机译:新型高分辨率红外傅里叶光谱仪及其在过氧化氢分子参数研究中的应用。
机译:基于便携式高速近红外成像装置的药物共混过程的图像监测和终点的确定该便携式近红外成像装置基于带有高速和高分辨率光电二极管阵列检测器的多色仪型近红外光谱仪
机译:通过HPGe检测器的能量分辨率测量确定Fano因子和前置放大器噪声
机译:msU 32折分段HpGe探测器的位置分辨率研究