首页> 外文期刊>Insight >Coping with failed elements on an array: a modelling approach to the technical justification
【24h】

Coping with failed elements on an array: a modelling approach to the technical justification

机译:应对阵列上的失效元件:技术论证的建模方法

获取原文
获取原文并翻译 | 示例
       

摘要

Ultrasonic inspections using array probes programmed to manipulate the field to focus and steer the sound energy are now widely applied in key industries to ensure the integrity of expensive and critical components or structures. These phased array probes are often fragile when used in field inspections and the failure of elements on the array can be an expensive affair, not just in terms of financial cost but also the implications towards the integrity of the inspection. This paper provides a technical justification for dealing with failed elements and aims to establish the tolerable limits through the use of modelling.
机译:超声检查使用的阵列探头经过编程,可操纵磁场以聚焦和操纵声能,现在已广泛应用于关键行业,以确保昂贵且关键的组件或结构的完整性。这些相控阵探头在现场检查中使用时通常很脆弱,而且阵列上的元件故障可能是一项昂贵的事情,不仅在财务成本方面,而且在检查完整性方面也有影响。本文提供了处理失败元素的技术依据,旨在通过建模来建立可容忍的限制。

著录项

  • 来源
    《Insight》 |2010年第7期|P.372-379|共8页
  • 作者

    C Nageswaran;

  • 作者单位

    TWI Ltd, Granta Park, Great Abington,Cambridge CB21 6AL, UK;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《化学文摘》(CA);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

    phased array; ultrasonic; failed elements; technical justification; modelling;

    机译:相控阵;超声波失败的元素;技术依据;造型;
  • 入库时间 2022-08-17 13:38:17

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号