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Determination of Impurities in High-Purity Germanium Dioxide Using Atomic Emission Spectrometry

机译:原子发射光谱法测定高纯二氧化锗中的杂质

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摘要

A technique for the determination of the impurity composition of soluble germanium dioxide and one containing up to 0.1% insoluble in 12 M HC1 is described. The technique offers the possibility to control the content of 31 impurities simultaneously after preconcentration with detection limits of about 10~(6)to 10~(-8) wt% and with an intralaboratory precision not exceeding 20 rel. %.
机译:描述了一种测定可溶性二氧化锗和不溶于12 M HC1的杂质的杂质组成的技术。该技术提供了在预浓缩后同时控制31种杂质含量的可能性,检测限为约10〜(6)至10〜(-8)wt%,实验室内精度不超过20 rel。 %。

著录项

  • 来源
    《Inorganic materials》 |2010年第14期|p.1483-1486|共4页
  • 作者单位

    Nikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia;

    rnNikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia;

    rnNikolaev Institute of Inorganic Chemistry, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences, Novosibirsk, Russia;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

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