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Surface Reactivity of Single-Crystal Silicon in Atomic Layer Deposition Processes

机译:原子层沉积过程中单晶硅的表面反应性

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摘要

A macromolecular concept of the structure of solids and induction constants are used to quantitatively assess the reactivity of hydroxyl groups on the surface of single-crystal matrices, as exemplified by silicon. The oxide layer on the surface of such matrices is shown to influence the reactivity of silanol groups in atomic layer deposition processes.
机译:正如硅的例子中,使用固体和感应常数的结构的大分子概念定量评估单晶矩阵表面上的羟基的反应性。示出了这种基质表面上的氧化物层,以影响原子层沉积过程中硅烷醇基团的反应性。

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