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Surface Reactivity of Single-Crystal Silicon in Atomic Layer Deposition Processes

机译:原子层沉积过程中单晶硅的表面反应性

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摘要

A macromolecular concept of the structure of solids and induction constants are used to quantitatively assess the reactivity of hydroxyl groups on the surface of single-crystal matrices, as exemplified by silicon. The oxide layer on the surface of such matrices is shown to influence the reactivity of silanol groups in atomic layer deposition processes.
机译:固体结构和诱导常数的大分子概念用于定量评估单晶基质表面上羟基的反应性,例如硅。这些基质表面上的氧化物层显示出会影响原子层沉积过程中硅烷醇基团的反应性。

著录项

  • 来源
    《Inorganic materials》 |2019年第2期|101-105|共5页
  • 作者

    Ezhovskii Yu. K.;

  • 作者单位

    Tech Univ, St Petersburg State Technol Inst, Moskovskii Pr 26, St Petersburg 190013, Russia;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 eng
  • 中图分类
  • 关键词

    single-crystal silicon; surface; hydroxyl groups; reactivity;

    机译:单晶硅;表面;羟基;反应性;

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