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机译:绕组末端接近损耗对电磁设备中温度变化的贡献
Department of Electrical & Electronic Engineering, University of Bristol, Bristol, U.K.;
Electric machines; electrothermal effects; end-winding; inductor; loss; motor drives; proximity effect; thermal analysis;
机译:高速永磁电机端部绕组接近损耗分析
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机译:数据和视频文件传输期间WLAN设备附近的电磁场强度
机译:研究电磁设备中的端绕组接近损失
机译:DRAM / eDRAM和3D-DRAM的省电方法,利用工艺变化,温度变化,设备降级和内存访问工作负载变化,以及使用具有服务质量的3D-DRAM的创新的异构存储管理方法。
机译:来自个人粉尘监测器和其他具有接近检测系统的电子设备的电磁干扰
机译:分析高速永磁电机的端部绕组接近损耗
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