フルスキャン設計での要求故障検出率を達成するためのテストパターン長

摘要

VLSI（Very Large Scale Integrated circuit）の設計で重要なことを端的に表現すれば，開発期間，機能と性能，消費電力，コスト（チップ面積，歩留り，テスト時間など）と品質の全体最適解を求めることである．これらの各課題は，他の課題の向上を阻害する要因を秘めている．この最適解が設計上流の早い段階で求まることが更に重要である．特に，テスト時間と品質を早い時期に予測することは，かなり困難な作業である．本論文では，設計パラメータのみを用いたテストパターン長と故障検出率の関係を明らかにする．そして，実証結果を示し，理論値が実際値と一致することを示す．このことより，本手法が設計の早い段階でテスト時間と品質が予測できることを示している．